PCT老化試驗箱（又稱PCT高壓加速老化試驗機）可模擬半導體、PCB、IC、LCD等試品PCT測試所需嚴苛溫度、濕度及高氣壓綜合環境以驗證產品封裝耐壓性氣密性。
產品介紹
PCT高壓加速老化試驗箱（又名PCT老化試驗箱）是提高環境應力（如：溫度）與工作應力（施加給產品的電壓、負荷等），加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間，主要是模擬氣候環境測試產品在不同溫度、濕度及壓力下密封性、氣密性的試驗設備。其廣泛應用于電子器件、汽車零配件、塑膠、線路板、IC、LCD、LED、磁鐵等行業。
PCT高壓加速老化試驗箱最主要是測試半導體封裝之抗濕氣能力，待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關問題。
依據試驗濕度飽和度可劃分為：飽和高壓加速老化試驗箱及非飽和高壓加速老化試驗箱
非飽和高壓加速老化試驗機試驗標準及方法：
MS IEC 60068-2-66-2008 環境試驗 第2-66部分-試驗方法 試驗Cx-穩態濕熱(不飽和加壓蒸汽)
PCT高壓加速老化試驗箱應用領域：
航空航天 國防軍工 汽車機電 信息通訊 能源材料 行業定制
注：支持非標定制
